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Componentes del ccsme MCU Chip Programming Contract Electronic Assembly SMD
Lugar de origen | CHINA, VIETNAM, LOS E.E.U.U. |
---|---|
Nombre de la marca | IBE |
Certificación | IATF16949,ISO13485,ISO 9001,ISO14001,ISO45001,UL,FDA |
Número de modelo | IBE-9271 |
Cantidad de orden mínima | 1pc |
Precio | $USD9-14 unit |
Detalles de empaquetado | Cartón del ESD bag+card (por encargo) |
Tiempo de entrega | 4-20 semanas dependen de componentes de ejecución plazo |
Condiciones de pago | L/C, T/T |
Capacidad de la fuente | 100000pcs |
Color | Verde, negro | Nombre | Montaje del PWB de SMT |
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Técnico superficial | ENIG | Cuenta de la capa | 4 |
Material | FR4 TG150 | Tamaño máximo del panel | 750mm*708m m |
Estándar aceptable | Clase de IPC-A-600G II o III | Servicio | Servicio de llavero rápido todo en uno |
Prueba | AOI, FCT, LAS TIC | Tipo | EL ccsme |
Tecnología | HDI | ||
Alta luz | Componentes de la asamblea electrónica SMD del contrato,Pcba del smd de MCU Chip Programming,El ccsme MCU Chip Programming |
Componentes de la asamblea SMD del PWB de SMT Service Provider MCU Chip Programming Electronic
Sobre IBE Corporation
Certificación:
Certificado por ISO 9001 y 14001, IBEesfabricantebien equipadoyestrictamentemanejado. Integramosnuestrosrecursosymanejamoslaproduccióna travésdelsistemadeMESquepuedeoptimizarbienprocesoygarantizarcalidad. Además, elgrupodeIBEse adhiereestrictamentea losestándaresde laproducciónyde lafabricaciónde IATF16949, de laindustria del automóvily de ISO 13485, industriamédica.
Capacidad de la producción:
SMT y asamblea del Por-agujero | Inserción componente de la echada fina |
Asamblea sin plomo | Asamblea de BGA y de QFN |
Asamblea todo en uno del PWB | Inspección de la radiografía de BGA |
Asamblea del PWB del prototipo | Inspección óptica automatizada |
Asamblea del PWB en bajos volúmenes | Prueba del PWB para la función |
AOI Testing Comprobaciones para goma de la soldadura Comprobaciones para componentes abajo a 0201" Comprobaciones para los componentes que falta, compensación, piezas incorrectas, polaridad Inspección de la radiografía La radiografía proporciona la inspección de alta resolución |
Prueba del En-circuito La prueba del En-circuito es de uso general conjuntamente con AOI que minimiza los defectos funcionales causados por problemas componentes. Prueba de ciclo inicial Prueba de función avanzada Programación de destello del dispositivo Prueba funcional |
El soldar selectivo de la onda | Capa conformal |
Estructura completa de la caja | Kitting e impresión 3D |